KEITHLEY 2007移动终端测试技术方案研讨会(北京、深圳)


全球及本地著名RF、音频和直流技术专家精彩分呈专题演讲
探讨RF测试的最新技术发展
分享终端RF测试最新解决方案和生产线上RF、音频、直流测试的成功案例
KEITHLEY 2007移动终端测试技术方案研讨会真诚期待您的光临,与您交流经验,使您在激烈的竞争中更胜一筹!
 
 流程:

时间

主题

演讲人

说明

9:00~9:10

欢迎致辞

9:10~9:40

当今世界RF测试的挑战和软件无线电的发展

Mark Elo

本讲介绍了如何通过软件无线电发展的最新成果来应对当今RF测试的各项挑战. 同时会介绍RF测试仪器的最新发展趋势以及多标准移动终端测试解决方案。

9:40~10:20

新兴技术的RF测试解决方案

Mark Elo

这一部分将探讨对无线互联技术这些新兴技术的RF测试解决方案,包括:IEEE 802.11 n (MIMO WLAN)和 WiMax的RF测试解决方案。

10:20~10:40

中场休息

10:40~11:30

TD-SCDMA手机生产RF测试解决方案案例讲解

Richard Zhang

以TD-SCDMA为代表的3G已经离我们越来越近,这一部分我们基于一个TD-SCDMA手机生产RF测试的实际案例,探讨生产测试所涉及的内容和最新RF测试技术的应用。涉及:
a) 传统方案和新技术方案的对比
b) 手机收发信机的校准和实例演示;
c) 手机收发信机测试和实例演示

11:30~12:00

手机的音频测试和直流测试

Jason Yang
Mark Wang

音频测试和直流测试也是手机设计和生产测试的重要环节,与射频测试组成一个完整的测试链。包括:
a) 某国际著名手机生产商N公司生产线音频测试案例
b) 某国际著名手机生产商M公司直流测试案例


马上报名
参会免费,包括会议资料及精美礼品!
另有机会获取珍贵、实用的KEITHLEY公司版权所有的全套《测试与测量系列技术手册》!

此手册凝聚了测试测量领域经典知识宝典和实用技术,涵盖低电平测量、纳米技术、半导体测试、参数测量、开关、数据采集等知识。内含6分册分别为:
Low Level Measurement Handbook
Nanotechnology Measurement Handbook
Overcoming the Measurement Challenges of Advanced Semiconductor Technologies
Parallel Test Technology
Switching Handbook
Understanding New Developments in Data Acquisition,Measurement and Control

 举办地点:

城市

日期

会议地点

北京

8月14日上午,周二

北京丽亭华苑酒店三层鸿运厅 北京市海淀区知春路25号 [地图]

深圳

8月16日上午,周四

深圳圣廷苑酒店主楼二层多功能厅 深圳华强北路4002号 [地图]



报名已经截止

温馨提示:
1.参会免费,包括会议资料及精美礼品
2.您的参会资格以会务组确认为准
3.我们将在48小时内电话或邮件通知您注册成功
4.研讨会现场凭您本人名片及邀请函入场

 
 会议协办: 21IC
报名热线:010-51626290
报名传真:010-51626279
联系人:孙小姐  lili@21ic.com